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基于先进工艺的车载芯片可靠性优化设计-汽车技术2026年02期

基于先进工艺的车载芯片可靠性优化设计

作者:梁宏玉 杨潇雨 冯治华 王妍 字体:      

主题词:跟踪/保持电路开关输出缓冲器嵌入式车载芯片可靠性中图分类号:TN792 文献标志码:A DOI:10.19620/j.cnki.1000-3703.20250310

TheReliability Optimization Design of Vehicle Chip Based on Advanced Tech(试读)...

汽车技术

2026年第02期