主题词：SiCMOSFETs 温度冲击 失效分析 分层

中图分类号：TN386 文献标志码：A DOI：10.19620/j.cnki.1000-3703.20250372

InvestigationofFailure Mechanismsin SiC MOSFETsunder Temperature Shock Testing

Zhu Shu（试读）...